汽车如何推动新的可测性设计技术 -

汽车IC重燃DFT技术

本文引用地址: http://www.21ic.com/app/auto/201505/626623.htm

随着人们对安全关键应用设备，尤其是汽车 IC(集成电路)，提出了新的需求，DFT(可测性设计)技术又再次受到重视。越来越多的处理器被运用于汽车的刹车系统、发动机控制、平视显示器、导航系统和图像传感器等等。这些芯片必须满足非常高的质量和可靠性标准，所以芯片制造商也必须进行高水平的生产测试和系统内部测试。不仅如此，他们还必须在尽可能提升测试水平的同时，确保测试时间和成本不会增加。

芯片测试方法

如今有两种测试方法被众多安全关键设备开发商迅速采纳 -- 单元识别 (Cell-Aware) 自动测试向量生成 (ATPG) 法和 ATPG/逻辑内建自测试 (LBIST) 综合运用法。单元识别测试法可实现每百万缺陷数 (DPM) 为零的目标。综合测试法则通过将ATPG和LBIST 逻辑电路测试法相结合来提高测试质量和效率。

事实证明，单元识别 ATPG 测试法是唯一可以发现传统方法检测不出的缺陷的方法。它可以发现一套完整的针对固定故障、节点跳变和时延缺陷的测试方法发现不了的缺陷，因为这种方法首先就对标准单元进行物理布局时可能出现的实际缺陷进行模拟。在新技术的改进下，单元识别测试法中的测试向量大小得以缩小，但整个测试向量仍大于传统的测试方法产生的测试向量，因此要进行嵌入式压缩。许多公司因为采用单元识别测试法而收效显著。部分成效的概述请见图1。