安捷伦发布LTE/LTE-A多通道PXI测试平台-EMBEDCC资讯-

>　　安捷伦(Agilent)宣布推出LTE/LTE-Advanced多通道PXI测试解决方案，可加速多通道测试系统配置，让工程师能够更深入了解复杂的载波聚合和空间多工多重输入多重输出(MIMO)设计。

　　设计和评估用于基地台、微型基地台(Microcell)、特微型基地台(Picocell)、中继器及行动装置中的元件和射频子系统，已变得越来越复杂，因为工程师须针对多天线系统设计进行极其复杂的多通道测试配置。

　　新款PXI测试解决方案提供高效能工具，以协助工程师产生复杂的LTE/LTE-A多通道/MIMO波形，并同时在频域和调变域中进行多通道分析。该解决方案提供简单易用的图形操作介面，可缩短建立测试配置的时间;此外，其量测设定可将LTE/LTE-Advanced MIMO和载波聚合配置最佳化。

　　该测试解决方案的机箱背板触发工具可用来配置和路由背板触发器，以便让多达两个PXIe机箱的MIMO配置维持适当的时间同步。藉由使用M9381A射频PXIe向量讯号产生器和M9391A PXIe向量讯号分析仪，工程师可轻松测试时间同步的MIMO(2×2或4×4)。这些仪器提供小于0.38%的EVM，并且在通道间维持不到20nsec的时间同步;另一方面，高达160MHz的讯号产生和分析频宽可支援最宽的LTE-Advanced载波聚合应用。

 

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