是德科技推出多通道天线校准参考解决方案-EMBEDCC资讯-

>　　是德科技推出多通道天线校准参考解决方案，该方案用于在整合和生产中，校准和描述大规模、多通道、相位阵列天线。这是今年早些时候是德科技提出由必要的测试系统原件构成，包括硬件、软件和测量专业知识的新概念后，推出的系列基于模块参考解决方案的第二个。

　　该参考解决方案提升了每秒的天线测试数量，提供了相干相位的多通道并联测量，另外也通过及时数字降频转换(DDC)优化大量数据。该系统用阵列近场窄带测试，为接收器通道校准快速连结多通道天线校准测试环境。

　　完整的相位阵列天线能够覆盖成千上万的个体传送与接收模块，校准它们需要很长的时间。这对生产成本和提升生产能力都有了负面影响。是德科技的新型参考解决方案，通过在扩展测试系统灵活性以覆盖范围更广应用设置的同时，大大减少了测量时间。

　　“我们的客户一直在寻找可扩展的、多通道天线阵列测试解决方案，这些方案需要有良好的窄带敏感度，并可以在未来扩展到宽带测量情景中，” 是德科技模块化解决方案营销经理Mario Narduzzi说。“新的参考解决方案提供的相位相干取样可以覆盖所有输入通道、软件模板案例包括相关的量级和相位测量，所以客户可以减少过程中的难点，提升单元间大规模相位阵列天线的校准水平。”

　　新的多通道天线校准参考解决方案可以从5插槽(多至14插槽)的8数字转换器通道扩展到40通道。此外，它提供了超稳定的相干通道(通道间的相位差小于1)、分析带宽灵活性(数字降频转换300 MHz，无数字降频转换600 MHz)以及每秒高达一百万的窄带测量。

　　是德科技的参考解决方案包括使用高度优化的程序源代码案例，这些代码应用于展示用户如何充分利用他们的测试系统的特定应用。是德科技已经展示，参考解决方案可以对特定应用进行测试解决方案的快速评估，同样可以大幅减少新的测试系统连结测试环境所需的时间。

　　

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