您现在的位置: 主页 > 嵌入式处理器 > FPGA > FPGA自动化测试难度凸显 - PLD新闻 -
本文所属标签:
为本文创立个标签吧:

FPGA自动化测试难度凸显 - PLD新闻 -

来源: 网络用户发布,如有版权联系网管删除 2018-08-15 

  本文核心提示:随着FPGA接口的速度提高,高速接口的测试、PCB板级的测试、EMI/EMC的测试等,这些测试的难度会越来越突出。想要实现FPGA的自动化测试的话,就需要提高软件的可控性和灵活性。

  目前FPGA所需的嵌入式逻辑分析工具一般由FPGA厂家自行提供,但无法满足通用性要求;而外部测试工具除提供更好的通用性外,也可以把FPGA内部信号与实际电路联合起来观察系统真实运行的情况。未来的话,各大FPGA厂商也会在这方面继续突破传统,有所创新,给用户提供更大的自由度。

  在FPGA的测试中,高速信号的信号完整性和时钟抖动分析是一项挑战。目前现存的IO还没有增加高速serdes接口,但是在未来市场的产品上必然也会增加serdes和IO接口的特性,从而使测试变得更加容易。

  为实现FPGA的自动化测试还需要提高软件可控性和灵活性,可以使设计人员、测试人员没有太多的顾虑。目前用的是debugware来实现芯片内部信号的探测,因为debugware会更加贴近工程师的习惯,操作更加简单。



              查看评论 回复



嵌入式交流网主页 > 嵌入式处理器 > FPGA > FPGA自动化测试难度凸显 - PLD新闻 -
 

"FPGA自动化测试难度凸显 - PLD新闻 -"的相关文章

网站地图

围观()