NI新版量测软体适用PXI RF测试系统-EMBEDCC资讯-

国家仪器(NI)近日发表了最新版进阶量测软体NI-RFmx 2.2。将此软体与第二代PXI向量讯号收发器(VST)搭配使用，即便5G标準定义尚未明确，依然可协助工程师使用各种载波聚合配置，测试收发器与放大器等4.5G与5G RF元件。工程师可使用第二代VST，同步产生并量测最多32个频宽为20MHz的LTE载波，并使用此软体指定各种载波间距配置。

　　NI RF部门副总裁 Charles Schroeder表示，该公司亲眼见证许多半导体产业客户採用PXI、LabVIEW与NI-RFmx量测软体后，大幅缩短RF量测的测试时间，进而降低测试成本并缩短产品上市时间。描述清楚、易于了解的使用说明文件、丰富的範例程式码，加上与第二代VST等PXI硬体之间的紧密整合，让该公司客户能在极短的时间内，将NI-RFmx轻鬆导入自家测试系统中。

　　最新版的NI-RFmx也针对演算法做了改良，有助于缩短整体量测时间。安装此最新版软体后，工程师在执行适用于UMTS/HSPA+与LTE/LTE-Advanced Pro等无线技术的调变品质与频谱量测作业时，EVM量测时间最多可缩短33%。

　　除了改良演算法之外，NI-RFmx也针对互调失真、叁阶交调截断与Y係数/冷源(Cold Source)杂讯係数等量测作业，提供额外的加强支援。这些量测作业能与PXIe-5668R RF讯号分析器轻鬆整合，可方便工程师设定高效能的PXI互调失真与杂讯係数测试集合。

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