是德展示全新400G/PAM-4测试解决方案-EMBEDCC资讯-

　　是德科技(Keysight)日前宣布将于2月1日至2日，在美国加州圣克拉拉会议中心举办的DesignCon 2017大会中，展出其高速数位解决方案。是德科技技术专家和应用工程师，将展示最先进的设计和测试解决方案。这些解决方案专为克服当今最棘手的高速数位量测挑战而设计。是德科技为2017年DesignCon的主要赞助机构。

　　此外，是德科技产业专家，将主持8场免费的40分鐘教育讲座，探讨的主题包括USB TYPE-C、讯号和电源完整性、400G/PAM-4、PCIe4、DDR4/LPDDR4、资料分析，以及IBIS -AMI模拟基本塬理。

　　于此大会中，是德科技将展示最新的USB Type-C发射器和接收器测试解决方案，可正确地评估并验证USB设计。另外，还将展出使用配备TDR选项的网路分析仪的缆线和连接器测试解决方案。并展示完整的工具和技术，工程师可用来测试PCI Express 4.0装置，可全面满足发射器和接收器的实体层Gen4要求。

　　展出内容还包括一致的讯号和电源完整性分析解决方案，包括可快速提供洞察力的全新设计和测试技术，以及新的通道模拟技术。是德的实体层测试系统(PLTS)2017是新的软体版本，具有PAM-4眼图、通道运作边限(COM)，和适用于製造自动化应用的SCPI命令介面。而新的数位互联测试系统参考解决方案，则可用来启动多埠互联产品的讯号完整性特性分析。

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