EDA中的密码锁输入电路的仿真 -

如图为密码锁输入电路的仿真结果图，图中的输出信号CLK_SCAN，C_DEBOUNCE是为便于仿真时观察中间结果而增加的观测点的输出，调试好后程序中的相应语句应注释掉。

如图 密码锁输入电路仿真结果图

为便于观测有关结果，仿真时假设CLK_1K为512 Hz，相应地，程序中的有关语旬改为“C_DEBOUNCE<=Q（1）；C_KEYBOARD<=Q（5 DOWNTO4）”。从仿真图上可以看出，CLK_CTR（即Q（0）为CLK_1K的2分频，为256 Hz；CLK_DEBOUNCE（即Q（1））为CLK_1K的22分频，为128 Hz；CLK_SCAN（即Q（5 DOWNTO 4））为CLK_1K的25分频，为16 Hz。同时当CLK_SCAN、KEY_IN为1110011时对应的按键为数字“1”，FLAG_N变为高电平，DATA_N则输出数字H1，即B0001：为0111 101时对应的按键为“0”，FLAG_N变为高电平，DATA N则输出数字HO，即B0000；为0111011时对应的按键为上锁功能按键“*”，DATA-F变为高电平，DATA_F则输出功能按键“上锁”的码字H4，即B0100。因此说明密码锁输入电路KEYBOARD.VHD的设计是正确的。

本文引用地址: http://www.21ic.com/app/eda/201806/769365.htm